AC ٹیسٹ وولٹیج کے دوران، عام طور پر استعمال شدہ جزوی خارج ہونے والے مادہ کی پیمائش کا طریقہ کار درج ذیل ہے:
(1) نمونہ قبل از علاج
ٹیسٹ سے پہلے، نمونے کو متعلقہ ضوابط کے مطابق پہلے سے تیار کیا جانا چاہیے:
1. جانچ کی مصنوعات کی سطح کو صاف اور خشک رکھیں تاکہ موصل کی سطح پر نمی یا آلودگی کی وجہ سے مقامی چوکوں کو روکا جا سکے۔
2. خصوصی تقاضوں کی عدم موجودگی میں، نمونہ ٹیسٹ کے دوران محیط درجہ حرارت پر ہونا چاہیے۔
3. پچھلی مکینیکل، تھرمل یا برقی کارروائی کے بعد، ٹیسٹ پروڈکٹ کو ٹیسٹ سے پہلے کچھ عرصے کے لیے چھوڑ دینا چاہیے، تاکہ ٹیسٹ کے نتائج پر مندرجہ بالا عوامل کے اثر کو کم کیا جا سکے۔
(2) خود ٹیسٹ سرکٹ کے جزوی خارج ہونے والے مادہ کی سطح کو چیک کریں۔
پہلے ٹیسٹ پروڈکٹ کو مت جوڑیں، لیکن صرف ٹیسٹ سرکٹ پر وولٹیج لگائیں۔اگر ٹیسٹ پروڈکٹ سے تھوڑا زیادہ ٹیسٹ وولٹیج کے تحت کوئی جزوی خارج نہیں ہوتا ہے، تو ٹیسٹ سرکٹ اہل ہے۔اگر جزوی خارج ہونے والے مادہ کی مداخلت کی سطح ٹیسٹ پروڈکٹ کی زیادہ سے زیادہ قابل اجازت خارج ہونے والے مادہ کی قابلیت قدر کے 50% سے زیادہ ہے یا اس تک پہنچ جاتی ہے، تو مداخلت کے ذریعہ کی نشاندہی کی جانی چاہیے اور مداخلت کی سطح کو کم کرنے کے لیے اقدامات کیے جائیں۔
(3) ٹیسٹ لوپ کا انشانکن
ٹیسٹ سرکٹ کے آلے کو پریشرائزیشن سے پہلے معمول کے مطابق کیلیبریٹ کیا جانا چاہیے تاکہ ٹیسٹ پروڈکٹ کے منسلک ہونے پر ٹیسٹ سرکٹ کے پیمانے کے گتانک کا تعین کیا جا سکے۔یہ گتانک سرکٹ کی خصوصیات اور ٹیسٹ پروڈکٹ کی اہلیت سے متاثر ہوتا ہے۔
کیلیبریٹڈ سرکٹ کی حساسیت کے تحت، مشاہدہ کریں کہ آیا ہائی وولٹیج پاور سپلائی کے منسلک نہ ہونے پر یا ہائی وولٹیج پاور سپلائی کے منسلک ہونے کے بعد کوئی بڑی مداخلت ہوتی ہے، اور اگر ایسا ہے تو اسے ختم کرنے کی کوشش کریں۔
(4) جزوی خارج ہونے والے شروع ہونے والے وولٹیج اور بجھانے والے وولٹیج کا تعین
کیلیبریشن ڈیوائس کو ہٹا دیں اور دوسری وائرنگ کو بغیر تبدیلی کے رکھیں۔جب ٹیسٹ وولٹیج کی ویوفارم ضروریات کو پورا کرتی ہے، تو وولٹیج کو متوقع جزوی خارج ہونے والے شروع ہونے والے وولٹیج سے بہت نیچے وولٹیج سے شامل کیا جاتا ہے، اور وولٹیج کو ایک مخصوص رفتار سے بڑھایا جاتا ہے جب تک کہ ڈسچارج کی گنجائش ایک مخصوص قدر تک نہ پہنچ جائے۔اس وقت وولٹیج جزوی خارج ہونے والا آغاز وولٹیج ہے۔اس کے بعد وولٹیج میں 10% اضافہ کیا جاتا ہے، اور پھر وولٹیج کو اس وقت تک کم کیا جاتا ہے جب تک کہ خارج ہونے کی گنجائش اوپر بیان کردہ قدر کے برابر نہ ہو جائے، اور متعلقہ وولٹیج جزوی خارج ہونے والے مادہ کو بجھانا ہے۔پیمائش کرتے وقت، لاگو وولٹیج کو ٹیسٹ آبجیکٹ کے ریٹیڈ اسٹینڈ وولٹیج سے تجاوز کرنے کی اجازت نہیں ہے۔اس کے علاوہ، اس کے قریب وولٹیج کا بار بار استعمال ٹیسٹ آبجیکٹ کو نقصان پہنچا سکتا ہے۔
(5) مخصوص ٹیسٹ وولٹیج کے تحت جزوی خارج ہونے والے مادہ کی پیمائش کریں۔
مندرجہ بالا سے یہ دیکھا جا سکتا ہے کہ جزوی خارج ہونے والے مادہ کی خصوصیت کرنے والے پیرامیٹرز تمام ایک مخصوص وولٹیج پر ماپا جاتا ہے، جو جزوی خارج ہونے والے شروع ہونے والے وولٹیج سے کہیں زیادہ ہو سکتا ہے۔بعض اوقات کئی ٹیسٹ وولٹیجز کے تحت خارج ہونے والے مادہ کی صلاحیت کی پیمائش کرنے کی شرط رکھی جاتی ہے، اور بعض اوقات ایک مخصوص ٹیسٹ وولٹیج کے تحت ایک مخصوص وقت کو برقرار رکھنے اور جزوی خارج ہونے کے ترقی کے رجحان کا مشاہدہ کرنے کے لیے متعدد پیمائشیں کرنے کی شرط رکھی جاتی ہے۔خارج ہونے والے مادہ کے حجم کی پیمائش کرتے ہوئے، یہ خارج ہونے والے مادہ کی تعداد، اوسط خارج ہونے والے موجودہ اور دیگر جزوی خارج ہونے والے مادہ کے پیرامیٹرز کی بھی پیمائش کر سکتا ہے۔
1. پہلے سے لاگو وولٹیج کے بغیر پیمائش
ٹیسٹ کے دوران، نمونے پر وولٹیج کو بتدریج کم قیمت سے مخصوص قدر تک بڑھایا جاتا ہے، اور جزوی خارج ہونے والے مادہ کی پیمائش کرنے سے پہلے ایک خاص مدت کے لیے رکھا جاتا ہے، پھر وولٹیج کو کم کیا جاتا ہے اور بجلی کی فراہمی کو کاٹ دیا جاتا ہے۔جزوی خارج ہونے والے مادہ کو بعض اوقات وولٹیج ریمپ اپ، ریمپ ڈاؤن، یا مخصوص وولٹیج پر ٹیسٹ کی پوری مدت کے دوران ناپا جاتا ہے۔
2. پہلے سے لاگو وولٹیج کے ساتھ پیمائش
ٹیسٹ کے دوران، وولٹیج کو آہستہ آہستہ کم قیمت سے بڑھایا جاتا ہے، اور مخصوص جزوی خارج ہونے والے ٹیسٹ وولٹیج سے تجاوز کرنے کے بعد، یہ پہلے سے لاگو وولٹیج تک بڑھ جاتا ہے، اسے ایک خاص مدت تک برقرار رکھتا ہے، پھر ٹیسٹ وولٹیج کی قدر میں گر جاتا ہے، وقت کی مخصوص مدت کو برقرار رکھتا ہے، اور پھر ایک مقررہ وقت کے وقفے پر جزوی خارج ہونے کی پیمائش کرتا ہے۔وولٹیج کی درخواست کی پوری مدت کے دوران، جزوی خارج ہونے والے مادہ کی مقدار کے تغیر پر توجہ دی جانی چاہیے۔
پوسٹ ٹائم: نومبر-16-2022